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TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)

TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)

簡要描述:

英國TASL TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)由愛儀器儀表網代理,本產品是基于核徑跡分析技術發(fā)展的高性能全自動圖像測量及分析系統(tǒng),用于測量及分析各類塑料徑跡探測器?,F(xiàn)在熱賣中!

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TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)簡介:
TASLimage是基于核徑跡分析技術發(fā)展的高性能全自動圖像測量及分析系統(tǒng),用于測量及分析各類塑料徑跡探測器,例如 TASTRAK(TASL 公司生產)、CR39、PN3。
TASLimage系統(tǒng)的顯微鏡模塊采用了高質量 Nikon 光學器件和超快 3D 機動控制系統(tǒng),保證了系統(tǒng)的高測量效率、高精度及低本底等優(yōu)異性能。
TASLimage適用于中子測量、氡濃度監(jiān)測、聚變研究、α 粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。
TASTRAK核徑跡探測器
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)特點:
全自動聚焦,全自動掃描點碼和蝕刻徑跡;
全自動測讀批量探測器;
快速測讀,測讀時間為 30~60 秒(與參數(shù)設置相關);
自動修正探測器響應衰退,保證探測器可用于 12 個月的長期監(jiān)測;
高度精密的圖像分析技術,可區(qū)分徑跡與本底特征;
全自動本底評估(對每個探測器);
掃描數(shù)據(jù)自動轉換為中子劑量 / 氡濃度;
數(shù)據(jù)可導出 excel 文件。

TASLimage軟件界面
TASLimage軟件界面

TASTRAK核徑跡探測器
TASTRAK核徑跡探測器

TASLimage徑跡蝕刻測量系統(tǒng)技術參數(shù):

探測器類型PADC(聚丙烯二甘醇碳酸酯)
兼容品牌TASTRAK,CR39,PN3 等,不限尺寸
TASTRAK 規(guī)格常規(guī):0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm,
可定制:0.1~0.5mm,> 1.5mm
本底徑跡< 20tracks/cm2
蝕刻數(shù)量150 個或 294 個,不銹鋼蝕刻架
蝕刻條件 (TASTRAK)氡:98℃ , 約 1 小時;或 75℃ , 約 6 小時;
中子: 85℃ , 約 3 小時
識別徑跡密度≥ 140tracks/mm2
探測限氡:5Bq/m3 ~15MBq/m3
中子:下限< 0.25mSv
線性中子:優(yōu)于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv;
氡: 3%-6%(200-5000 Bq/m3 )


北京康高特儀器設備有限公司是國內專業(yè)的TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統(tǒng)廠家,歡迎廣大顧客來電咨詢!
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